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투자

반도체 전공정, 후공정 | 관련주 모음

by Bill evans

목차

    반도체 제조의 핵심 단계를 이해하세요. 웨이퍼 제조부터 후공정까지의 과정을 살펴보며, 산업의 핵심 기술과 성능을 결정짓는 단계들을 탐색하세요.

     

    반도체 전공정 과정

    전공정은 반도체 칩이 형성되는 단계로, 여러 세부 과정을 포함합니다. 각 과정은 반도체의 성능과 품질에 직접적인 영향을 미치므로, 매우 높은 수준의 정밀도와 품질 관리가 요구됩니다.

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    웨이퍼 준비 단계

    반도체 칩의 기본이 되는 웨이퍼를 제조하는 것이 첫 단계입니다. 실리콘 결정체를 고온의 톱으로 미세한 두께로 절단하여 웨이퍼를 만듭니다. 이후, 다양한 물리적, 화학적 처리 과정을 거쳐 표면을 정밀하게 다듬고 불순물을 제거합니다. 각 웨이퍼는 두께, 지름, 불순물 농도 등을 측정하여 특정 기준에 부합하는지 검사를 받습니다.

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    산화 공정

    산화 공정에서는 웨이퍼 표면에 실리콘 산화막(SiO2)을 형성합니다. 이 과정은 주로 높은 온도에서 산소 또는 물과의 반응을 통해 이루어지며, 실리콘 산화막은 트랜지스터의 게이트 층 또는 절연층을 형성하는 데 사용됩니다. 산화막의 두께와 품질은 전자 소자의 전기적 특성에 큰 영향을 미치므로, 정밀한 조절이 필요합니다.

     

    포토 공정

    포토 공정은 웨이퍼 위에 미세한 반도체 회로를 그리는 단계입니다. 포토 리소그래피 기술을 사용하여, 빛에 민감한 화학 물질인 포토레지스트를 웨이퍼에 적층한 후, 마스크를 이용해 빛을 쪼여 회로 패턴을 형성합니다. 노출되지 않은 포토레지스트는 제거되고, 노출된 부분은 웨이퍼에 남아 회로 패턴을 형성합니다.

     

    식각 공정

    식각 공정은 포토 공정에서 형성된 회로 패턴을 웨이퍼에 영구적으로 입히는 과정입니다. 건식 식각과 습식 식각이라는 두 가지 방법이 있으며, 이를 통해 불필요한 포토레지스트나 웨이퍼 표면의 물질을 제거합니다. 이 과정은 반도체 소자의 전기 신호 처리 능력을 결정합니다.

     

    증착 및 이온 주입 공정

    증착 공정에서는 웨이퍼 위에 얇은 박막을 형성하여 회로를 나누거나 보호하고, 전기적으로 연결하는 역할을 합니다. 이온 주입 공정은 웨이퍼에 특정 이온을 주입하여 원하는 전기적 특성을 부여하는 과정으로, 반도체의 p-형과 n-형 영역을 구분하는 데 필요합니다.

     

    금속 배선 공정

    금속 배선 공정은 반도체 칩 내의 다양한 소자들을 전기적으로 연결하는 단계입니다. 알루미늄이나 구리와 같은 전도성이 좋은 금속을 사용하여 웨이퍼 위에 미세한 금속선을 형성합니다. 이 과정은 칩의 전기적 특성, 비용, 공정의 복잡성 등을 고려하여 결정됩니다.

     

    반도체 후공정 과정

    후공정은 반도체 칩이 최종 제품으로 변모하는 결정적인 단계로, 이 과정을 통해 칩은 실제 사용 환경에서의 성능과 신뢰성을 갖추게 됩니다.

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    1. 웨이퍼 테스트 (Wafer Testing)

    후공정의 첫 단계는 웨이퍼 테스트, 또는 프로브 테스트라고 불립니다. 이 단계에서는 전공정을 거친 웨이퍼 상의 각 반도체 칩들이 전기적 특성을 충족하는지 검사합니다. 이 과정은 EDS(Electrical Die Sorting)라고도 하며, 불량 칩을 선별하고 양품만을 다음 단계로 넘기는 중요한 역할을 합니다.

     

    2. 싱글 칩 분리 (Dicing)

    웨이퍼 테스트를 통과한 칩들은 이제 개별적인 반도체 칩으로 분리됩니다. 이 과정을 '다이싱'이라고 하며, 매우 정밀한 절단 기술을 요구합니다. 다이싱은 반도체 칩을 웨이퍼에서 분리하여 각각 독립적인 기능을 수행할 수 있게 만드는 과정입니다.

     

    3. 패키징 (Packaging)

    다이싱으로 분리된 칩들은 이제 패키징 과정을 거치게 됩니다. 패키징은 칩을 보호하고, 외부 회로와 연결하는 역할을 합니다. 이 단계에서는 다양한 패키징 기술이 사용되며, 칩의 용도와 필요한 성능에 따라 적절한 패키징 방법이 선택됩니다. 패키징은 반도체의 최종 형태를 결정짓는 중요한 과정으로, 칩의 성능뿐만 아니라 크기와 무게에도 영향을 미칩니다.

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    4. 최종 검사 (Final Testing)

    패키징된 반도체 칩은 최종 검사 과정을 거칩니다. 이 단계에서는 칩의 성능, 신뢰성, 품질 등이 최종적으로 확인됩니다. 최종 검사는 제품이 시장에 출시되기 전에 모든 기준을 충족하는지 확인하는 결정적인 단계입니다. 이 과정을 통과한 칩만이 시장에 출시되어 다양한 전자 기기에 탑재됩니다.

     

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